- 半導體測試分選設備
本設備是一臺用于IC終端測試(FT)階段的高效分選機，采用JEDEC Tray供料方式，矩陣式吸嘴支持64個吸嘴獨立控制，配有無氮可編程三溫調節系統，實現溫度精準控制，可搭載不同的測試刺激室，為MEMS傳感器及Memory/MCU等產品測試校準提供精準刺激，設備已實現規模化量產測試，具備高性能、高穩定性和高效率的優勢。
- 應用領域
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MEMS壓力傳感器
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MEMS溫度傳感器
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MEMS陀螺儀/加速度傳感器
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存儲半導體
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功率半導體
- 相關產品
MEMS傳感器測試分選機
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功能
- 自動上下料；
- 視覺系統檢查Tray盤是否有物料及進行產品表面二維碼掃碼；
- 壓力測試；
- 高/低溫測試；
- 自動區分NG/PASS產品。
特點
- 高效率，30,000+ UPH
- 高靈活性，兼容多種刺激室
- 模塊化設計，簡單快速切換COK
- Tray in Tray out，可放置30+ JEDEC Tray，可兼容多種分Bin
- 視覺物料識別，姿態識別，二維碼識別，字符識別
- 結構緊湊，占地面積：2500*1720*2380 mm
應用
MEMS溫度傳感器， MEMS壓力傳感器， MEMS陀螺儀/加速度傳感器， 存儲半導體， 功率半導體
